Plateforme d'Analyses par Chromatographie - Cité de l'Innovation Marrakech

Plateformes d'Imagerie, Microscopie et Spectroscopie Avancés

JSM-7200F JEOL

Microscope électronique à balayage haute résolution JSM-7200F JEOL

Voir les caractéristiques
  • Source : Canon à électrons à émission de champ Schottky intégré à la lentille.
  • Modes de vide :
    • Mode vide élevé, idéal pour l’observation d’échantillons conducteurs.
    • Mode basse pression (low-vacuum) adapté aux échantillons semi-conducteurs ou isolants.
    • Mode Gentle Beam pour les échantillons biologiques.
  • Résolution : 1 nm.
  • Stade de l’échantillon : Platine goniométrique entièrement eucentrique.
  • Mouvement de scène :
    • X : 70 mm
    • Y : 50 mm
    • Z : 2 à 41 mm
    • Inclinaison : -5 à 70 °
  • Rotation : 360 °.
  • Grossissement : 10× à 1 000 000×.
  • Accessoires :
    • Détecteur d’électrons secondaires.
    • Détecteur d’électrons rétrodiffusés.
    • Spectrométrie de rayons X à dispersion d’énergie.
Tescan Vega3

Microscope Électronique à Balayage Tescan Vega3

Voir les caractéristiques
- Canon thermoïonique au Tungstène
- Tension d'accélération : 200 V à 30 kV
- Résolution : 3 nm, Grossissement : 2.5x à 1 000 000x
- Détecteurs : électrons secondaires, rétrodiffusés, EDS
NTEGRA Probe

Microscope à force atomique NTEGRA PROBE NANOLABORATORY

Voir les caractéristiques
- Plage de balayage : X/Y > 90 µm, Z > 10 µm
- Résolution : <2 nm (fermée), <0.2 nm (ouverte)
- Capable de balayer 1 µm²
- Taille échantillon : ≥ 20x20x5 mm